Abhinaya: ఇంగ్లీష్ వికీపీడియాలోని “Characterization (materials science)” వ్యాసానికి తెలుగు అనువాదం

2026-10-08T13:00:24Z

ఇంగ్లీష్ వికీపీడియాలోని “Characterization (materials science)” వ్యాసానికి తెలుగు అనువాదం

New page

[[పదార్థ విజ్ఞాన శాస్త్రం]] (materials science)లో '''క్యారెక్టరైజేషన్''' (Characterization) అనేది ఒక పదార్థం యొక్క నిర్మాణం మరియు ధర్మాలను పరిశీలించి, కొలిచే విస్తృతమైన మరియు సాధారణ ప్రక్రియ. ఇది పదార్థ విజ్ఞాన శాస్త్ర రంగంలో ఒక ప్రాథమిక ప్రక్రియ, ఇది లేకుండా ఇంజనీరింగ్ పదార్థాల గురించి ఎటువంటి శాస్త్రీయ అవగాహనను పొందడం సాధ్యం కాదు.<ref>(2009). "Materials characterization techniques". CRC Press. ISBN 978-1420042948.</ref><ref name=Leng2009 /> ఈ పదం యొక్క పరిధి తరచుగా మారుతూ ఉంటుంది; కొన్ని నిర్వచనాలు ఈ పదాన్ని పదార్థాల సూక్ష్మ నిర్మాణం మరియు ధర్మాలను అధ్యయనం చేసే సాంకేతికతలకు మాత్రమే పరిమితం చేస్తాయి,<ref name=Leng2009>Leng, Yang. (2009). "Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods". Wiley. ISBN 978-0-470-82299-9.</ref> మరికొందరు ఈ పదాన్ని యాంత్రిక పరీక్షలు (mechanical testing), ఉష్ణ విశ్లేషణ (thermal analysis) మరియు సాంద్రత గణన వంటి స్థూల సాంకేతికతలతో సహా ఏదైనా పదార్థ విశ్లేషణ ప్రక్రియను సూచించడానికి ఉపయోగిస్తారు.<ref name="Materials Characterization Techniques">Zhang, Sam. (2008). "Materials Characterization Techniques". CRC Press. ISBN 978-1420042948.</ref> పదార్థాల క్యారెక్టరైజేషన్‌లో గమనించిన నిర్మాణాల పరిమాణం [[ఆంగ్స్ట్రామ్స్]] (angstroms) నుండి, అంటే వ్యక్తిగత పరమాణువులు మరియు రసాయన బంధాల ఇమేజింగ్ నుండి, లోహాలలో ఉండే స్థూల ధాన్యపు నిర్మాణాల (coarse grain structures) ఇమేజింగ్ వంటి సెంటీమీటర్ల వరకు ఉంటుంది.

ప్రాథమిక ఆప్టికల్ మైక్రోస్కోపీ వంటి అనేక క్యారెక్టరైజేషన్ సాంకేతికతలు శతాబ్దాలుగా వాడుకలో ఉన్నప్పటికీ, కొత్త సాంకేతికతలు మరియు పద్ధతులు నిరంతరం ఉద్భవిస్తున్నాయి. ముఖ్యంగా 20వ శతాబ్దంలో [[ఎలక్ట్రాన్ మైక్రోస్కోప్]] మరియు [[సెకండరీ అయాన్ మాస్ స్పెక్ట్రోమెట్రీ]] రాక ఈ రంగాన్ని విప్లవాత్మకంగా మార్చింది. ఇది గతంలో సాధ్యమైన దానికంటే చాలా చిన్న స్థాయిలో నిర్మాణాలను మరియు కూర్పులను ఇమేజింగ్ చేయడానికి మరియు విశ్లేషించడానికి అనుమతించింది, దీనివల్ల వివిధ పదార్థాలు ఎందుకు వేర్వేరు ధర్మాలను మరియు ప్రవర్తనలను చూపుతాయనే దానిపై అవగాహన స్థాయి భారీగా పెరిగింది.<ref name=EM>Mathys, Daniel, Zentrum für Mikroskopie, [[University of Basel]]: ''Die Entwicklung der Elektronenmikroskopie vom Bild über die Analyse zum Nanolabor'', p. 8</ref> ఇటీవల, గత 30 ఏళ్లలో [[అటామిక్ ఫోర్స్ మైక్రోస్కోపీ]] కొన్ని నమూనాల విశ్లేషణ కోసం గరిష్ట సాధ్యమైన రిజల్యూషన్‌ను మరింత పెంచింది.<ref>[https://patents.google.com/patent/US4724318?oq=4724318 Patent US4724318 – Atomic force microscope and method for imaging surfaces with atomic resolution – Google Patents]</ref>

== మైక్రోస్కోపీ ==

[[మైక్రోస్కోపీ]] అనేది ఒక పదార్థం యొక్క ఉపరితలం మరియు ఉప-ఉపరితల నిర్మాణాన్ని పరిశీలించే మరియు మ్యాప్ చేసే క్యారెక్టరైజేషన్ సాంకేతికతల వర్గం. ఈ సాంకేతికతలు నమూనా యొక్క నిర్మాణం గురించి వివిధ పొడవు ప్రమాణాలలో డేటాను సేకరించడానికి [[ఫోటాన్]]లు, [[ఎలక్ట్రాన్]]లు, [[అయాన్]]లు లేదా భౌతిక కాంటిలివర్ ప్రోబ్‌లను ఉపయోగించవచ్చు. మైక్రోస్కోపీ సాంకేతికతలకు కొన్ని సాధారణ ఉదాహరణలు:

*[[ఆప్టికల్ మైక్రోస్కోపీ]]
*[[స్కానింగ్ ఎలక్ట్రాన్ మైక్రోస్కోపీ]] (SEM)
*[[ట్రాన్స్‌మిషన్ ఎలక్ట్రాన్ మైక్రోస్కోపీ]] (TEM)
*[[ఫీల్డ్ అయాన్ మైక్రోస్కోపీ]] (FIM)
*[[స్కానింగ్ ప్రోబ్ మైక్రోస్కోపీ]] (SPM)
**[[అటామిక్ ఫోర్స్ మైక్రోస్కోపీ]] (AFM)
**[[స్కానింగ్ టన్నెలింగ్ మైక్రోస్కోపీ]] (STM)
*[[డిఫ్రాక్షన్ టోపోగ్రఫీ|ఎక్స్-రే డిఫ్రాక్షన్ టోపోగ్రఫీ]] (XRT)
*[[ఆటం ప్రోబ్|ఆటం-ప్రోబ్ టోమోగ్రఫీ]] (APT)

== స్పెక్ట్రోస్కోపీ ==
[[స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] అనేది పదార్థాల రసాయన కూర్పు, కూర్పు వైవిధ్యం, స్ఫటిక నిర్మాణం మరియు కాంతివిద్యుత్ ధర్మాలను వెల్లడించడానికి వివిధ సూత్రాలను ఉపయోగించే క్యారెక్టరైజేషన్ సాంకేతికతల వర్గం. స్పెక్ట్రోస్కోపీ సాంకేతికతలకు కొన్ని సాధారణ ఉదాహరణలు:

=== ఆప్టికల్ రేడియేషన్ ===
*[[అల్ట్రావయోలెట్-విజిబుల్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] (UV-vis)
*[[ఫోరియర్ ట్రాన్స్‌ఫార్మ్ ఇన్‌ఫ్రారెడ్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] (FTIR)
*[[థర్మోల్యూమినిసెన్స్]] (TL)
*[[ఫోటోల్యూమినిసెన్స్]] (PL)

=== ఎక్స్-రే ===
<ref name="NASA-20121030">Brown, Dwayne. (October 30, 2012). [http://www.nasa.gov/home/hqnews/2012/oct/HQ_12-383_Curiosity_CheMin.html NASA Rover's First Soil Studies Help Fingerprint Martian Minerals]. [[NASA]].</ref>

*[[ఎక్స్-రే క్రిస్టలోగ్రఫీ|ఎక్స్-రే డిఫ్రాక్షన్]] (XRD)
*[[స్మాల్-యాంగిల్ ఎక్స్-రే స్కాటరింగ్]] (SAXS)
*[[ఎనర్జీ-డిస్పర్స్డ్ ఎక్స్-రే స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] (EDX, EDS)
*[[వేవ్‌లెంగ్త్ డిస్పర్స్డ్ ఎక్స్-రే స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] (WDX, WDS)
*[[ఎలక్ట్రాన్ ఎనర్జీ లాస్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] (EELS)
*[[ఎక్స్-రే ఫోటోఎలక్ట్రాన్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] (XPS)
*[[ఆగర్ ఎలక్ట్రాన్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] (AES)
*[[ఎక్స్-రే ఫోటాన్ కోరిలేషన్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] (XPCS)<ref>[http://sector7.xray.aps.anl.gov/~dufresne/UofM/xpcs.html What is X-ray Photon Correlation Spectroscopy (XPCS)?]. ''sector7.xray.aps.anl.gov''.</ref>

=== మాస్ స్పెక్ట్రోమెట్రీ ===
''మరింత సమాచారం: మాస్ స్పెక్ట్రోమెట్రీ''
*మాస్ స్పెక్ట్రోమెట్రీ పద్ధతులు:
**[[ఎలక్ట్రాన్ అయనీకరణం]] (EI)
**[[థర్మల్ అయనీకరణ మాస్ స్పెక్ట్రోమెట్రీ]] (TI-MS)
**[[MALDI-TOF]]
*[[సెకండరీ అయాన్ మాస్ స్పెక్ట్రోమెట్రీ]] (SIMS)

=== న్యూక్లియర్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ ===
''మరింత సమాచారం: న్యూక్లియర్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ''

*[[న్యూక్లియర్ మాగ్నెటిక్ రెసొనెన్స్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] (NMR)
*[[మోస్‌బౌర్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] (MBS)
*[[పర్టర్బ్డ్ యాంగ్యులర్ కోరిలేషన్]] (PAC)

=== ఇతరాలు ===
*[[ఫోటాన్ కోరిలేషన్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ]]/[[డైనమిక్ లైట్ స్కాటరింగ్]] (DLS)
*[[టెరాహెర్ట్జ్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ మరియు సాంకేతికత|టెరాహెర్ట్జ్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] (THz)
*[[ఎలక్ట్రాన్ పారామాగ్నెటిక్ రెసొనెన్స్|ఎలక్ట్రాన్ పారామాగ్నెటిక్/స్పిన్ రెసొనెన్స్]] (EPR, ESR)
*[[స్మాల్-యాంగిల్ న్యూట్రాన్ స్కాటరింగ్]] (SANS)
*[[రూథర్‌ఫోర్డ్ బ్యాక్‌స్కాటరింగ్ స్పెక్ట్రోమెట్రీ]] (RBS)
* స్పేషియల్లీ రిజాల్వ్డ్ ఎకౌస్టిక్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ ([[SRAS]])

== స్థూల పరీక్షలు (Macroscopic testing) ==
పదార్థాల యొక్క వివిధ స్థూల ధర్మాలను క్యారెక్టరైజ్ చేయడానికి భారీ శ్రేణి సాంకేతికతలు ఉపయోగించబడతాయి, వాటిలో:

*[[యాంత్రిక పరీక్షలు]] (Mechanical testing), వీటిలో టెన్సైల్, కంప్రెసివ్, టోర్షనల్, క్రీప్, ఫెటీగ్, టఫ్‌నెస్ మరియు హార్డ్‌నెస్ పరీక్షలు ఉన్నాయి
*[[డిఫరెన్షియల్ థర్మల్ అనాలిసిస్]] (DTA)
*[[డైఎలెక్ట్రిక్ థర్మల్ అనాలిసిస్]] (DEA, DETA)
*[[థర్మోగ్రావిమెట్రిక్ అనాలిసిస్]] (TGA)
*[[డిఫరెన్షియల్ స్కానింగ్ క్యాలరీమెట్రీ]] (DSC)
*[[ఇంపల్స్ ఎక్సైటేషన్ టెక్నిక్]] (IET)
*[[అల్ట్రాసౌండ్]] సాంకేతికతలు, వీటిలో [[రెసొనెంట్ అల్ట్రాసౌండ్ స్పెక్ట్రోస్కోపీ]] మరియు టైమ్ డొమైన్ [[అల్ట్రాసోనిక్ టెస్టింగ్]] పద్ధతులు ఉన్నాయి<ref>R. Truell, C. Elbaum and C.B. Chick., Ultrasonic methods in solid state physics New York, Academic Press Inc., 1969.</ref>

<ref>Ahi, Kiarash; Shahbazmohamadi, Sina; Asadizanjani, Navid. (2018). [https://www.researchgate.net/publication/318712771 Quality control and authentication of packaged integrated circuits using enhanced-spatial-resolution terahertz time-domain spectroscopy and imaging]. ''Optics and Lasers in Engineering''. 104 274–284. doi:[https://doi.org/10.1016/j.optlaseng.2017.07.007 10.1016/j.optlaseng.2017.07.007].</ref>

== ఇవి కూడా చూడండి ==
*[[విశ్లేషణాత్మక రసాయన శాస్త్రం]]
*[[ఇన్‌స్ట్రుమెంటల్ కెమిస్ట్రీ]]
*[[సెమీకండక్టర్ క్యారెక్టరైజేషన్ సాంకేతికతలు]]
*[[వేఫర్ బాండ్ క్యారెక్టరైజేషన్]]
*[[పాలిమర్ క్యారెక్టరైజేషన్]]
*[[లిపిడ్ బైలేయర్ క్యారెక్టరైజేషన్]]
*[[లిగ్నిన్ క్యారెక్టరైజేషన్]]
*[[నానోపార్టికల్స్ క్యారెక్టరైజేషన్]]
*[[ఇన్ సిటు మెకానికల్ క్యారెక్టరైజేషన్ కోసం MEMS]]

== సూచనలు ==
<references />

{{DEFAULTSORT:Characterization (Materials Science)}}
[[Category:పదార్థ విజ్ఞాన శాస్త్రం]]

----
''మూలం:'' ఇంగ్లీష్ వికీపీడియాలోని “Characterization (materials science)” వ్యాసానికి అనువాదం.
''మూల వ్యాసం:'' https://en.wikipedia.org/wiki/Characterization_(materials_science)
''ఈ అనువాదం స్వయంచాలకంగా రూపొందించబడింది.''

పదార్థ విజ్ఞాన శాస్త్రంలో క్యారెక్టరైజేషన్ (పదార్థాల లక్షణాల గుర్తింపు) - Revision history

Abhinaya: ఇంగ్లీష్ వికీపీడియాలోని “Characterization (materials science)” వ్యాసానికి తెలుగు అనువాదం